| ପରୀକ୍ଷା ଏବଂ ଯାଞ୍ଚ | ସର୍ବନିମ୍ନ ନମୁନା ଆକାର | | ସ୍ତର |
|
|
| ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 200 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍ ନୁହେଁ | | ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ: 1-199 ଖଣ୍ଡ (ଟିପ୍ପଣୀ 1 ଦେଖନ୍ତୁ) |
|
| ଆବଶ୍ୟକ ପରୀକ୍ଷା |
|
| ଏକ ସ୍ତର |
| ଚୁକ୍ତିନାମା ପାଠ୍ୟ ଏବଂ ଏନକାପସୁଲେସନ୍ | |
|
| A1 |
| ଚୁକ୍ତିନାମା ପାଠ୍ୟ ଏବଂ ପ୍ୟାକେଜିଂ ଯାଞ୍ଚ (4.2.6.4.1) (ବିନାଶକାରୀ) | ସମସ୍ତ | ସମସ୍ତ |
|
| ରୂପର ଯାଞ୍ଚ | |
|
| A2 |
| a। ମୋଟାମୋଟି (4.2.6.4.2.1) (ବିନାଶକାରୀ) | ସମସ୍ତ | ସମସ୍ତ |
|
| ଖ। ବିବରଣୀ (4.2.6.4.2.2) (ବିନାଶକାରୀ) | 122 ଖଣ୍ଡ | 122 ଖଣ୍ଡ ବା ସମସ୍ତ (ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 122 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍) |
|
| ପୁନ y ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ) | ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ | | ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ | | A3 |
| ଟାଇପିଂ ପାଇଁ ଦ୍ରବଣକାରୀ ପରୀକ୍ଷା (4.2.6.4.3A) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ) | 3 ଖଣ୍ଡ | 3 ଖଣ୍ଡ |
|
| ନବୀକରଣ ପାଇଁ ଦ୍ରବଣକାରୀ ପରୀକ୍ଷା (4.2.6.4.3B) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ) | 3 ଖଣ୍ଡ | 3 ଖଣ୍ଡ |
|
| ଏକ୍ସ-ରେ ଚିହ୍ନଟ | |
|
| A4 |
| ଏକ୍ସ-ରେ ଚିହ୍ନଟ (4.2.6.4.4) (ବିନାଶକାରୀ) | 45 ଖଣ୍ଡ | | 45 ଖଣ୍ଡ କିମ୍ବା ସମସ୍ତ (ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 45 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍) |
|
| ଲିଡ୍ ଚିହ୍ନଟ (XRF କିମ୍ବା EDS / EDX) | ଟିପ୍ପଣୀ 3 ଦେଖନ୍ତୁ | | ଟିପ୍ପଣୀ 3 ଦେଖନ୍ତୁ | | A5 |
| XRF (କ୍ଷତିହୀନ) କିମ୍ବା EDS / EDX (କ୍ଷତି) (4.2.6.4.5) (ସଂଲଗ୍ନ C.1) | 3 ଖଣ୍ଡ | 3 ଖଣ୍ଡ |
|
| ଖୋଲା ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ବିଶ୍ଳେଷଣ (କ୍ଷତିକାରକ) | ଟିପ୍ପଣୀ 6 ଦେଖନ୍ତୁ | | ଟିପ୍ପଣୀ 6 ଦେଖନ୍ତୁ | | A6 |
| ଖୋଲା କଭର (4.2.6.4.6) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ) | 3 ଖଣ୍ଡ | 3 ଖଣ୍ଡ |
|
| ଅତିରିକ୍ତ ପରୀକ୍ଷା (ଉଭୟ କମ୍ପାନୀ ଏବଂ ଗ୍ରାହକଙ୍କ ଦ୍ agreed ାରା ସହମତ) |
|
|
|
| ପୁନ y ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ) | ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ | | ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ | | A3 ବିକଳ୍ପ | |
| ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି ସ୍କାନିଂ (4.2.6.4.3C) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ) | 3 ଖଣ୍ଡ | 3 ଖଣ୍ଡ |
|
| ଭୂପୃଷ୍ଠ ପରିମାଣିକ ବିଶ୍ଳେଷଣ (4.2.6.4.3D) (ବିନାଶକାରୀ) | 5 ଖଣ୍ଡ | 5 ଖଣ୍ଡ |
|
| ଉତ୍ତାପର ପରୀକ୍ଷା | |
|
| ବି ସ୍ତର |
| ଥର୍ମାଲ୍ ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷା (ସଂଲଗ୍ନ C.2) | ସମସ୍ତ | ସମସ୍ତ |
|
| ବ electrical ଦୁତିକ ଗୁଣଗୁଡିକର ପରୀକ୍ଷା | |
|
| C ସ୍ତର |
| ବ Elect ଦ୍ୟୁତିକ ପରୀକ୍ଷା (ସଂଲଗ୍ନ C.3) | 116 ଖଣ୍ଡ | ସମସ୍ତ |
|
| ବାର୍ଦ୍ଧକ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା |
|
| D ସ୍ତର |
| ବର୍ନ-ଇନ୍ ପରୀକ୍ଷା (ପରୀକ୍ଷା ପୂର୍ବରୁ ଏବଂ ପରେ) (ଆନେକ୍ସ C.4) | 45 ଖଣ୍ଡ | 45 ଖଣ୍ଡ କିମ୍ବା ସମସ୍ତ (ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 45 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍) |
|
| କଠିନତାର ନିଶ୍ଚିତତା (ସର୍ବନିମ୍ନ ଲିକ୍ ହାର ଏବଂ ସର୍ବାଧିକ ଲିକ୍ ହାର) |
|
| ଇ ସ୍ତର |
| କଠିନତାର ନିଶ୍ଚିତତା (ସର୍ବନିମ୍ନ ଏବଂ ସର୍ବାଧିକ ଲିକେଜ୍ ହାର) (ସଂଲଗ୍ନ C.5) | ସମସ୍ତ | ସମସ୍ତ |
|
| ଆକାଶବାଣୀ ସ୍କାନିଂ ପରୀକ୍ଷା | |
|
| F ସ୍ତର |
| ଆକାଶବାଣୀ ସ୍କାନିଂ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପ୍ (ଆନେକ୍ସ C.6) | ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ | | ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ | |
|
| ଅନ୍ୟମାନେ | |
|
| ଜି ସ୍ତର |
| ଅନ୍ୟାନ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା ଏବଂ ଯାଞ୍ଚ | | ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ | | ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ | |
ଟିପ୍ପଣୀ:
୧୦ ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍ ବ୍ୟାଚ୍ ପାଇଁ, କଗ୍ନିଜାଣ୍ଟ ଇଞ୍ଜିନିୟର୍ସ, ନିଜ ଇଚ୍ଛାନୁସାରେ, ପରୀକ୍ଷଣର ଗୁଣବତ୍ତା ଏବଂ ଗ୍ରାହକଙ୍କ ସହମତି ଅନୁଯାୟୀ, "କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ" ପରୀକ୍ଷା ପାଇଁ ନମୁନା ଆକାରକୁ 1 ଖଣ୍ଡକୁ ହ୍ରାସ କରିପାରନ୍ତି |
2। ପୁନ y ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ ପରୀକ୍ଷଣ ପାଇଁ ନମୁନାଗୁଡିକ ବ୍ୟାଚରୁ "ଦୃଶ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା - ସବିଶେଷ ପରୀକ୍ଷା" ପାଇଁ ଚୟନ କରାଯାଇପାରେ |
3। "ଦୃଶ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା - ସବିଶେଷ ପରୀକ୍ଷା" ପାଇଁ ବ୍ୟାଚ୍ ରୁ ଲିଡ୍ ପରୀକ୍ଷା ନମୁନା ଚୟନ କରାଯାଇପାରିବ |
4। "ପୁନ y ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ ପରୀକ୍ଷଣ" ଚାଲିଥିବା ବ୍ୟାଚରୁ ଖୋଲା କଭର ପରୀକ୍ଷା ନମୁନା ଚୟନ କରାଯାଇପାରିବ |
