ଏକ-ଷ୍ଟପ୍ ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ ଉତ୍ପାଦନ ସେବା, PCB ଏବଂ PCBA ରୁ ତୁମର ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ ଉତ୍ପାଦକୁ ସହଜରେ ହାସଲ କରିବାରେ ସାହାଯ୍ୟ କରେ |

AS6081 ପରୀକ୍ଷା ମାନକ |

ପରୀକ୍ଷା ଏବଂ ଯାଞ୍ଚ

ସର୍ବନିମ୍ନ ନମୁନା ଆକାର |

ସ୍ତର

 

 

ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 200 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍ ନୁହେଁ |

ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ: 1-199 ଖଣ୍ଡ (ଟିପ୍ପଣୀ 1 ଦେଖନ୍ତୁ)

 

ଆବଶ୍ୟକ ପରୀକ୍ଷା

 

 

ଏକ ସ୍ତର

ଚୁକ୍ତିନାମା ପାଠ୍ୟ ଏବଂ ଏନକାପସୁଲେସନ୍ |

 

 

A1

ଚୁକ୍ତିନାମା ପାଠ୍ୟ ଏବଂ ପ୍ୟାକେଜିଂ ଯାଞ୍ଚ (4.2.6.4.1) (ବିନାଶକାରୀ)

ସମସ୍ତ

ସମସ୍ତ

 

ରୂପର ଯାଞ୍ଚ |

 

 

A2

a। ମୋଟାମୋଟି (4.2.6.4.2.1) (ବିନାଶକାରୀ)

ସମସ୍ତ

ସମସ୍ତ

 

ଖ। ବିବରଣୀ (4.2.6.4.2.2) (ବିନାଶକାରୀ)

122 ଖଣ୍ଡ

122 ଖଣ୍ଡ ବା ସମସ୍ତ (ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 122 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍)

 

ପୁନ y ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ)

ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ |

ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ |

A3

ଟାଇପିଂ ପାଇଁ ଦ୍ରବଣକାରୀ ପରୀକ୍ଷା (4.2.6.4.3A) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ)

3 ଖଣ୍ଡ

3 ଖଣ୍ଡ

 

ନବୀକରଣ ପାଇଁ ଦ୍ରବଣକାରୀ ପରୀକ୍ଷା (4.2.6.4.3B) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ)

3 ଖଣ୍ଡ

3 ଖଣ୍ଡ

 

ଏକ୍ସ-ରେ ଚିହ୍ନଟ |

 

 

A4

ଏକ୍ସ-ରେ ଚିହ୍ନଟ (4.2.6.4.4) (ବିନାଶକାରୀ)

45 ଖଣ୍ଡ |

45 ଖଣ୍ଡ କିମ୍ବା ସମସ୍ତ (ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 45 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍)

 

ଲିଡ୍ ଚିହ୍ନଟ (XRF କିମ୍ବା EDS / EDX)

ଟିପ୍ପଣୀ 3 ଦେଖନ୍ତୁ |

ଟିପ୍ପଣୀ 3 ଦେଖନ୍ତୁ |

A5

XRF (କ୍ଷତିହୀନ) କିମ୍ବା EDS / EDX (କ୍ଷତି) (4.2.6.4.5) (ସଂଲଗ୍ନ C.1)

3 ଖଣ୍ଡ

3 ଖଣ୍ଡ

 

ଖୋଲା ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ବିଶ୍ଳେଷଣ (କ୍ଷତିକାରକ)

ଟିପ୍ପଣୀ 6 ଦେଖନ୍ତୁ |

ଟିପ୍ପଣୀ 6 ଦେଖନ୍ତୁ |

A6

ଖୋଲା କଭର (4.2.6.4.6) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ)

3 ଖଣ୍ଡ

3 ଖଣ୍ଡ

 

ଅତିରିକ୍ତ ପରୀକ୍ଷା (ଉଭୟ କମ୍ପାନୀ ଏବଂ ଗ୍ରାହକଙ୍କ ଦ୍ agreed ାରା ସହମତ)

 

 

 

ପୁନ y ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ)

ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ |

ଟିପ୍ପଣୀ 2 ଦେଖନ୍ତୁ |

A3 ବିକଳ୍ପ |

ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି ସ୍କାନିଂ (4.2.6.4.3C) (କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ)

3 ଖଣ୍ଡ

3 ଖଣ୍ଡ

 

ଭୂପୃଷ୍ଠ ପରିମାଣିକ ବିଶ୍ଳେଷଣ (4.2.6.4.3D) (ବିନାଶକାରୀ)

5 ଖଣ୍ଡ

5 ଖଣ୍ଡ

 

ଉତ୍ତାପର ପରୀକ୍ଷା |

 

 

ବି ସ୍ତର

ଥର୍ମାଲ୍ ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷା (ସଂଲଗ୍ନ C.2)

ସମସ୍ତ

ସମସ୍ତ

 

ବ electrical ଦୁତିକ ଗୁଣଗୁଡିକର ପରୀକ୍ଷା |

 

 

C ସ୍ତର

ବ Elect ଦ୍ୟୁତିକ ପରୀକ୍ଷା (ସଂଲଗ୍ନ C.3)

116 ଖଣ୍ଡ

ସମସ୍ତ

 

ବାର୍ଦ୍ଧକ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା

 

 

D ସ୍ତର

ବର୍ନ-ଇନ୍ ପରୀକ୍ଷା (ପରୀକ୍ଷା ପୂର୍ବରୁ ଏବଂ ପରେ) (ଆନେକ୍ସ C.4)

45 ଖଣ୍ଡ

45 ଖଣ୍ଡ କିମ୍ବା ସମସ୍ତ (ବ୍ୟାଚ୍ ପରିମାଣ 45 ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍)

 

କଠିନତାର ନିଶ୍ଚିତତା (ସର୍ବନିମ୍ନ ଲିକ୍ ହାର ଏବଂ ସର୍ବାଧିକ ଲିକ୍ ହାର)

 

 

ଇ ସ୍ତର

କଠିନତାର ନିଶ୍ଚିତତା (ସର୍ବନିମ୍ନ ଏବଂ ସର୍ବାଧିକ ଲିକେଜ୍ ହାର) (ସଂଲଗ୍ନ C.5)

ସମସ୍ତ

ସମସ୍ତ

 

ଆକାଶବାଣୀ ସ୍କାନିଂ ପରୀକ୍ଷା |

 

 

F ସ୍ତର

ଆକାଶବାଣୀ ସ୍କାନିଂ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପ୍ (ଆନେକ୍ସ C.6)

ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ |

ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ |

 

ଅନ୍ୟମାନେ |

 

 

ଜି ସ୍ତର

ଅନ୍ୟାନ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା ଏବଂ ଯାଞ୍ଚ |

ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ |

ନିୟମ ଅନୁଯାୟୀ |

 

ଟିପ୍ପଣୀ:

୧୦ ଖଣ୍ଡରୁ କମ୍ ବ୍ୟାଚ୍ ପାଇଁ, କଗ୍ନିଜାଣ୍ଟ ଇଞ୍ଜିନିୟର୍ସ, ନିଜ ଇଚ୍ଛାରେ, ପରୀକ୍ଷଣର ଗୁଣବତ୍ତା ଏବଂ ଗ୍ରାହକଙ୍କ ସହମତି ଅନୁଯାୟୀ, “କ୍ଷତିଗ୍ରସ୍ତ” ପରୀକ୍ଷା ପାଇଁ ନମୁନା ଆକାରକୁ 1 ଖଣ୍ଡକୁ ହ୍ରାସ କରିପାରନ୍ତି |

2। ପୁନ app ଟାଇପ୍ ଏବଂ ପୁନ urb ନିର୍ମାଣ ପରୀକ୍ଷଣ ପାଇଁ ନମୁନାଗୁଡିକ “ଦୃଶ୍ୟ ପରୀକ୍ଷଣ - ବିସ୍ତୃତ ପରୀକ୍ଷଣ” ପାଇଁ ବ୍ୟାଚରୁ ଚୟନ କରାଯାଇପାରେ |

3। “ଦୃଶ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା - ସବିଶେଷ ପରୀକ୍ଷା” ପାଇଁ ବ୍ୟାଚ୍ ରୁ ଲିଡ୍ ପରୀକ୍ଷା ନମୁନା ଚୟନ କରାଯାଇପାରିବ |

4। “ରିଟାଇପିଂ ଏବଂ ନବୀକରଣ ପରୀକ୍ଷଣ” ଚାଲିଥିବା ବ୍ୟାଚରୁ ଖୋଲା କଭର ପରୀକ୍ଷା ନମୁନା ଚୟନ କରାଯାଇପାରିବ |


ପୋଷ୍ଟ ସମୟ: ଜୁଲାଇ -08-2023 |